XRDテクニック

X線回折（XRD）は、天然または人工物の化学組成および結晶学的構造に関する詳細な情報を提供する技術です。
これは、オブジェクトの内部を明らかにするための典型的なX線の原理には作用しません。むしろ、XRD装置は、試料でX線を照射し、原子レベルでビームの回折の角度および方向を測定する。この測定により、研究者は研究対象の化学組成と結晶学的構造を評価することができます。粉末回折法（Powder Diffraction）

粉末X線回折法は、X線回折の最も一般的な手法です。標本は、分析中の物質の粒子からなる。液体の懸濁液中の試料を研究するために、粉末回折も使用することができる。用語「粉末」は粉末試料を指すのではなく、むしろ結晶ドメインが試料中でランダムに配向していることを意味する。
粉末XRDの結果は、試料の基礎構造を特定するピークの位置および強度からなる。これにより、ダイヤモンドまたはグラファイトは、両方が原子レベルの炭素で構成されていても、異なる結果を生み出します。


薄膜回折

薄膜回折はあまりない基板上に成長した薄膜サンプルを分析する技術の集まりとしての単一のXRD技術。この技術は、マイクロエレクトロニクスおよびオプトエレクトロニクスデバイスの研究開発によく使用されます。この方法は、材料の構造および残留応力を測定するのに役立つ精密な格子定数を測定する場合に特に役立ちます。



XRD解析テクニック

XRD測定は、類似の材料から収集したデータと比較することによって、標本の基礎構造を識別する。これは、ピーク位置と強度の正確な測定を必要とし、回折システムの正確な決定を行う。 XRDデータの定量分析は、多相試料のような一定の形状を保たない試料の基礎構造を測定する。言い換えれば、構造が常に複数の段階を経て変化している材料の特性を評価しようとします。最も効果的な定量的評価方法は非常に複雑であり、計算には強力なコンピュータが必要です。
幸いにも、XRD分析ソフトウェアのいくつかの安価なバージョンは存在しますが、商用ソフトウェアほど「ユーザーフレンドリー」ではないかもしれません。